JDB电子试玩南通中镭光电申请光电子器件响应频率测试专利有助于提高测试的效率

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　　金融界2024年11月2日消息•■，国家知识产权局信息显示▽●▷，南通中镭光电有限公司申请一项名为◁•▼▲“一种光电子器件响应频率测试装置以及测试方法◆•◇=”的专利=□○▽，公开号 CN 118882820 A■★，申请日期为2024年9月=◁▲••▽。

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　　专利摘要显示□…，本发明公开了一种光电子器件响应频率测试装置以及测试方法•◇•☆●•，属于检测设备技术领域◇▲；包括底座■◆◁▲、载物台•▲•◆、动态测试机构和静态测试机构▼■☆•；所述的动态测试机构安装在底座上•★▪◁★-，所述的动态测试机构包括摄像头一◁▼△▷，所述的摄像头一用于采集对光电子器件通电时••◁◇-，动态下的光电子器件所发出的光的频率●•■▼◇◆；所述的静态测试机构包括多个摄像头二和多个按压头□=…••▷，所述的按压头用于按压光电子器件•=•□，所述的摄像头二用于采集对光电子器件通电时★◆•◇○□，静止状态下的光电子器件所发出光的频率●☆●■◁。本发明通过动态测试机构和静态测试机构自动完成对光电子器件的响应频率测试…□▽=，结构简单◁▲，操作方便★◁•=★，并且能够连续完成两种情景下的测试△…•◁☆=，有助于提高测试的效率•■▷…。

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